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| 材料の微小領域の観察・解析 −透過電子顕微鏡 (TEM)− |
材料の微小領域(サブミクロン)の組織・析出物・結晶構造・形態観察および元素分析が可能です。 |
レプリカ法 |
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| ・試料表面の微細凹凸の形態観察 | ・試料研磨後に特殊電解処理により析出物の 分離抽出し形態、組成分析、電子線回折 |
薄膜法 | 分散法 |
| ・金属材料など0.1mm厚さに切断研磨後に 電解研磨して直接観察。結晶粒や方位、 析出物の組成分析も可能 |
・観察物は微細粒粉体でコロジオン支持膜上に 分散させ粒子形状、サイズ、粒度分布などが 観察可能 |
| 株式会社ニッテクリサーチ | 姫路市広畑区富士町1番地(本社) TEL079-236-0041 FAX079-236-1501 |
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