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材料の微小領域の観察・解析
   −透過電子顕微鏡 (TEM)−   

材料の微小領域(サブミクロン)の組織・析出物・結晶構造・形態観察および元素分析が可能です。

分析解析例

レプリカ法

・試料表面の微細凹凸の形態観察・試料研磨後に特殊電解処理により析出物の
分離抽出し形態、組成分析、電子線回折
  

薄膜法

分散法

・金属材料など0.1mm厚さに切断研磨後に
電解研磨して直接観察。結晶粒や方位、
析出物の組成分析も可能
・観察物は微細粒粉体でコロジオン支持膜上に
分散させ粒子形状、サイズ、粒度分布などが
観察可能

株式会社ニッテクリサーチ 姫路市広畑区富士町1番地(本社) TEL079-236-0041 FAX079-236-1501

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